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GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法废止

发布日期:2007-03-26 实施日期:2007-08-01

标准摘要

本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体厚度的会聚束电子衍射方法。

注:若需要正式出版文本,请底部扫码咨询客服。

代替标准

现行标准

修改单

国别:
中国
英文名称:
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
中标分类:
N 53
ICS分类:
分析化学 > 有关化学分析方法的其他标准
发布日期:
2007-03-26
实施日期:
2007-08-01
废止日期:
2022-07-01
发布部门:
国家质量监督检验检疫总局&国家标准化管理委员会
发布号:
2006年第13号(总第100号) 点此查看此公告发布的标准
废止公告:
中华人民共和国国家标准公告2021年第17号
官方来源:
国家标准化管理委员会
起草单位:
北京科技大学
本标准无引用标准
本标准无被引用标准

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