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GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则废止

发布日期:2006-12-25 实施日期:2007-08-01

标准摘要

本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。

注:若需要正式出版文本,请底部扫码咨询客服。

代替标准

现行标准

修改单

国别:
中国
英文名称:
Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
中标分类:
N 33
ICS分类:
分析化学 > 有关化学分析方法的其他标准
发布日期:
2006-12-25
实施日期:
2007-08-01
废止日期:
2016-09-01
发布部门:
国家质量监督检验检疫总局&国家标准化管理委员会
发布号:
2006年第13号(总第100号) 点此查看此公告发布的标准
废止公告:
国家标准批准发布公告2015年第31号
官方来源:
国家标准化管理委员会
起草单位:
本标准无引用标准
本标准共有 1 项被引用标准
1. GB/T 25189-2010 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法

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