帮助视频GB/T 25185-2010 表面化学分析-X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告现行
标准摘要
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
注：若需要正式出版文本，请底部扫码咨询客服。
代替标准
现行标准
修改单
- 国别:
- 中国
- 英文名称:
- Surface chemical analysis-X-ray photoelectron spectroscopy-Reporting of methods used for charge control and charge correction
- 中标分类:
- G 04
- ICS分类:
- 分析化学 > 化学分析
- 发布日期:
- 2010-09-26
- 实施日期:
- 2011-08-01
- 发布部门:
- 国家质量监督检验检疫总局＆国家标准化管理委员会
- 发布号:
- 无 点此查看此公告发布的标准
- 官方来源:
- 国家标准化管理委员会
- 起草单位:
- 北京师范大学分析测试中心
- 本标准共有 1 项被引用标准
- 1. GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法
食典报订阅号
食典通服务号
客服号
© 2016 食典通-食品安全标准免费下载网 北京达邦数据技术有限公司提供 京ICP备10012965号-3