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GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法现行

发布日期:2016-08-29 实施日期:2017-07-01

标准摘要

GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。

本部分适用于工业硅中汞含量的测定,测定范围:0.000 010%~0.001 0%。

注:若需要正式出版文本,请底部扫码咨询客服。

代替标准

现行标准

修改单

国别:
中国
英文名称:
Methods for chemical analysis of silicon metal-Part 10:Determination of mercury content-Atomic fluorescence spectrometry method
中标分类:
ICS分类:
发布日期:
2016-08-29
实施日期:
2017-07-01
发布部门:
国家质量监督检验检疫总局&国家标准化管理委员会
发布号:
2016年第14号 点此查看此公告发布的标准
官方来源:
国家标准委
起草单位:
昆明冶金研究院&北京有色金属研究总院&北京矿冶研究总院&云南永昌硅业股份有限公司&通标标准技术服务(天津)有限公司&云南祥云飞龙再生科技股份有限公司&云南出入境检验检疫局&广州有色金属研究院
本标准无引用标准
本标准无被引用标准

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