GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法现行
发布日期:2016-08-29
实施日期:2017-07-01
标准摘要
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中汞含量的测定,测定范围:0.000 010%~0.001 0%。
注:若需要正式出版文本,请底部扫码咨询客服。
代替标准
现行标准
修改单
- 国别:
- 中国
- 英文名称:
- Methods for chemical analysis of silicon metal-Part 10:Determination of mercury content-Atomic fluorescence spectrometry method
- 中标分类:
- 无
- ICS分类:
- 无
- 发布日期:
- 2016-08-29
- 实施日期:
- 2017-07-01
- 发布部门:
- 国家质量监督检验检疫总局&国家标准化管理委员会
- 发布号:
-
2016年第14号
点此查看此公告发布的标准
- 官方来源:
-
国家标准委
- 起草单位:
- 昆明冶金研究院&北京有色金属研究总院&北京矿冶研究总院&云南永昌硅业股份有限公司&通标标准技术服务(天津)有限公司&云南祥云飞龙再生科技股份有限公司&云南出入境检验检疫局&广州有色金属研究院